Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Борча М$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 20
Представлено документи з 1 до 20
|
1. |
Борча М. Д. Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, В. Н. Ткач // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 8. - С. 1135-1148. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_8_13 Продемонстрированы возможности метода Кикучи в исследовании неоднородного распределения деформаций в образцах искусственных кристаллов алмаза, выращенных при различных технологических условиях. Показаны перспективы использования геометрических параметров дифракционных картин Кикучи для определения изменения периода решетки. Использован корреляционный метод и его программная реализация определения деформаций дифракционных изображений пересечений линий Кикучи и минимизации субъективных факторов. Оптимальный выбор ядра корреляции обеспечивает высокую точность определения смещений деталей изображений. В результате определены локальные изменения структурной однородности искусственных алмазов и относительные изменения периода кристаллической решетки.Предложен новый подход к определению локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием метода гистограмм и метода дискретного двухмерного Фурье-преобразования. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).
| 2. |
Борча М. Д. Локальные деформации в окрестности трещины сварочного шва никелевого сплава, определённые с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, А. В. Звягинцева, В. М. Ткач, К. А. Ющенко, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 10. - С. 1359-1370. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_10_7 Исследованы образцы сварных соединений никелевых сплавов NiCrFe, содержащих трещины. Используя картины дифракции обратно отражённых электронов, полученные в сканирующем электронном микроскопе, определены деформации в локальных участках каждого образца в зависимости от расстояния до трещины, а также от распределения химических элементов, полученного с помощью рентгеноспектрального микроанализа.
| 3. |
Раранський М. Д. Аномальне проходження при трьохвильовій рентгенівській дифракції в деформованому приповерхневому шарі [Електронний ресурс] / М. Д. Раранський, І. М. Фодчук, М. Д. Борча, І. І. Крицун, І. В. Міхальов // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. - 1998. - Вип. 29. - С. 92-97. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1998_29_17
| 4. |
Ткач В. М. Визначення структурної досконалості синтезованих кристалів алмазу [Електронний ресурс] / В. М. Ткач, М. Д Раранський, І. М. Фодчук, М. Д. Борча, І. В. Міхальов, Д. О. Штемплюк // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. - 1998. - Вип. 30. - С. 104-108. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1998_30_21
| 5. |
Борча М. Д. Вплив приповерхневої деформації на трьохвильове аномальне проходження рентгенівських променів [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, Л. Л. Гультай, О. П. Кройтор // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. - 1998. - Вип. 30. - С. 114-119. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1998_30_23
| 6. |
Хоменко В. Ю. Тензометрія кристалів штучного алмазу методом дифракції зворотно-розсіяних електронів [Електронний ресурс] / В. Ю. Хоменко, М. Д. Борча, І. М. Фодчук, О. О. Ткач // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2014. - Т. 3, Вип. 2. - С. 5-10. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2014_3_2_3
| 7. |
Фодчук І. М. Особливості розподілу деформацій в кристалах, визначених методом дифракції зворотно-розсіяних електронів [Електронний ресурс] / І. М. Фодчук, М. Д. Борча, В. Ю. Хоменко, В. М. Ткач, С. В. Баловсяк // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2014. - Т. 3, Вип. 2. - С. 29-38. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2014_3_2_7
| 8. |
Ткач В. М. Визначення структурної неоднорідності синтезованих алмазів та розорієнтації кристалітів/зерен полікристалічних матеріалів методом Кікучі-дифракції [Електронний ресурс] / В. М. Ткач, І. М. Фодчук, М. Д. Борча, Я. Д. Гарабажів, С. В. Баловсяк, В. Г. Ральченко, С. В. Ткач // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2009. - Вип. 438. - С. 72-85. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2009_438_12
| 9. |
Кшевецький С. А. Застосування багатохвильової дифрактометрії для абсолютного визначення постійної гратки високодосконалих кристалів [Електронний ресурс] / С. А. Кшевецький, М. Д. Борча, І. І. Крицун, І. М. Фодчук, Я. Д. Гарабажів // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2005. - Вип. 237. - С. 39-45. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2005_237_8
| 10. |
Борча М. Д. Вплив дефектної структури алмазу на розщеплення ліній Коселя [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, О. С. Кшевецький, В. М. Ткач, О. О. Ткач, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2004. - Вип. 201. - С. 5-11. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2004_201_3
| 11. |
Ткач O. O. Особливості трихвильової рентгенівської дифракції у кристалах GaAs та ІnР з прихованим деформованим шаром [Електронний ресурс] / O. O. Ткач, М. Д. Борча, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2002. - Вип. 133. - С. 28-33. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2002_133_7
| 12. |
Фодчук І. М. Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів [Електронний ресурс] / І. М. Фодчук, М. Д. Борча, В. Ю. Хоменко, С. В. Баловсяк, В. М. Ткач, О. О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. - 2016. - № 4. - С. 67-73. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2016_4_9 Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, одержаного методом температурного градієнта в системі Fe - Al - C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni - Mn - C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти - зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі.
| 13. |
Борча М. Д. Распределение локальных деформаций в кристаллах алмаза по данным анализа профилей интенсивности линий Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, В. Н. Ткач // Сверхтвердые материалы. - 2013. - № 4. - С. 34-42. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2013_4_4 Предложен способ определения деформаций в кристаллах алмаза по анализу полос дифракции отраженных электронов на картинах Кикучи с использованием метода гистограмм. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности двух образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).
| 14. |
Борча М. Д. Локальные деформации в кристаллах алмаза, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, О. П. Кройтор, В. Н. Ткач // Сверхтвердые материалы. - 2013. - № 5. - С. 39-48. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2013_5_4 Предложена новая методика определения локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием дискретного двумерного Фурье-преобразования. Данная методика апробирована при исследовании образцов алмаза, синтезированных при различных условиях. Полученные результаты хорошо согласуются с данными других методов.
| 15. |
Гультай Л. Л. Вплив періодичних спотворень кристалу на трихвильове аномальне проходження рентгенівських променів [Електронний ресурс] / Л. Л. Гультай, М. Д. Борча, І. М. Фодчук, М. Д. Раранський // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 50. - С. 31-35. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_50_10
| 16. |
Фодчук І. М. Дослідження впливу одномірних деформацій на ефект аномального проходження для чотирихвильових дифракцій рентгенівських променів [Електронний ресурс] / І. М. Фодчук, М. Д. Борча, М. Д. Раранський, Л. Л. Гультай // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 57. - С. 56-61. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_57_13
| 17. |
Борча М. Д. Вплив одномірних деформацій кристалів на ефекти трихвильової рентгенівської дифракції [Електронний ресурс] / М. Д. Борча // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 57. - С. 82-87. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_57_18
| 18. |
Борча М. Д. Шестихвильова рентгенівська дифракція у спотворених кристалах [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, Л. Л. Гультай, М. Д. Раранський, О. О. Ткач, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 1999. - Вип. 66. - С. 58-63. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_1999_66_18
| 19. |
Борча М. Д. Вплив спотворення вхідної поверхні на чотирихвильове розсіяння X-променів у Ge [Електронний ресурс] / М. Д. Борча, Я. Д. Гарабажів, М. Д. Раранський, О. О. Ткач, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика, електроніка. - 2000. - Вип. 79. - С. 69-72. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nvchnufe_2000_79_20
| 20. |
Фодчук И. М. Распределение локальных деформаций в синтетических кристаллах алмаза из анализа параметров энергетического спектра картин Кикучи [Електронний ресурс] / И. М. Фодчук, С. А. Ивахненко, В. Н. Ткач, С. В. Баловсяк, М. Д. Борча, Н. С. Солодкий, И. И. Гуцуляк, А. Р. Кузьмин, О. В. Сумарюк // Надтверді матеріали. - 2020. - № 1. - С. 3-12. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/sm_2020_1_3 Исследовано деформационное состояние локальных областей в окрестности трещин в сварном шве никелевого сплава. Предложена методика определения компонент тензора локальных деформаций в отдельных зернах поликристаллических образцов. Диагональные компоненты тензора определялись по изменениям распределений интенсивности отдельных полос, другие компоненты - из смещения осей зон относительно их положений на эталонной картине Кикучи. Построены характеристические поверхности тензоров деформаций, а также проанализированы особенности их планарного распределения в окрестностях трещин сварных швов.Определена средняя деформация в локальных областях синтетического алмаза с помощью энергетического Фурье-спектра при анализе цифровых картин Кикучи. Степень размытия дифракционных полос и их пересечений на изображениях, вызванных деформациями, количественно описаны через средний пространственный период и площадь радиального распределения энергетического спектра. Планарное распределение локальных деформаций позволило определить их анизотропию в кристалле по величине и направлению.Определена средняя деформация в локальных областях синтетического алмаза с помощью энергетического Фурье-спектра при анализе цифровых картин Кикучи. Степень размытия дифракционных полос и их пересечений на изображениях, вызванных деформациями, количественно описаны через средний пространственный период и площадь радиального распределения энергетического спектра. Планарное распределение локальных деформаций позволило определить их анизотропию в кристалле по величине и направлению.
|
|
|